dm: test: Add tests for device's uclass platform data
authorPrzemyslaw Marczak <p.marczak@samsung.com>
Wed, 15 Apr 2015 11:07:19 +0000 (13:07 +0200)
committerSimon Glass <sjg@chromium.org>
Wed, 22 Apr 2015 17:03:14 +0000 (11:03 -0600)
commit754e71e850cb09d53543846fbed74cc5a1491c76
tree8585ba7e94c7ccdac4bc47e1b26a2ce6cda77048
parent5eaed880282480a5a0a2b555c5f98a11252ed94e
dm: test: Add tests for device's uclass platform data

This test introduces new test structure type:dm_test_perdev_uc_pdata.
The structure consists of three int values only. For the test purposes,
three pattern values are defined by enum, starting with TEST_UC_PDATA_INTVAL1.

This commit adds two test cases for uclass platform data:
- Test: dm_test_autobind_uclass_pdata_alloc - this tests if:
  * uclass driver sets: .per_device_platdata_auto_alloc_size field
  * the devices's: dev->uclass_platdata is non-NULL

- Test: dm_test_autobind_uclass_pdata_valid - this tests:
  * if the devices's: dev->uclass_platdata is non-NULL
  * the structure of type 'dm_test_perdev_uc_pdata' allocated at address
    pointed by dev->uclass_platdata. Each structure field, should be equal
    to proper pattern data, starting from .intval1 == TEST_UC_PDATA_INTVAL1.

Signed-off-by: Przemyslaw Marczak <p.marczak@samsung.com>
Cc: Simon Glass <sjg@chromium.org>
Acked-by: Simon Glass <sjg@chromium.org>
include/dm/test.h
test/dm/core.c
test/dm/test-uclass.c